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产品名称:JX-2000A型颗粒图像分析仪
产品型号:JX-2000A

JX-2000型颗粒图像分析仪

一、应用范围
    适用于石墨、磨料、陶瓷、碳化硅、硅灰石、金刚石、金属粉、碳粉、药粉、涂料、水泥、硬质合金、催化剂、云母粉、填料等各种粉末物料颗粒的形貌观察和粒度分析。
二、性能特点 
1. 工业级摄像头高速采集颗粒,光学显微镜放大成像,图像快速显示于电脑,直接观察颗粒形貌,专用分析软件进行颗粒数据处理。
2. 测量范围:0.5μm~3000μm
3. 接口方式:USB连接。
4. 平场消色差物镜,最大分辨率0.07微米,最大光学放大倍数1600倍,打印最大倍数4000倍(A4幅面)。
5. 等面积和等周长两种基准下的个数、直径、面积、体积、圆形度等分布数据。同时提供颗粒数、D10、D50、D90、平均粒径、表面积、长径比等粒度分布数据,配有(30)多种图像分析和处理功能,可以满足各种图像处理需要。
6. 对采集的图像进行调整高度、宽度、亮度、对比度、滤波、填充等,提高分析分辨率,网格标注颗粒尺寸等功能,测试结果真实可靠。
7. 仪器分二种型号,技术原理、参数均相同,JX-2000A型颗粒图像分析仪配置透射显微镜,JX-2000B型颗粒图像分析仪配置透反射显微镜,后者还可用于陶瓷、金属等各种不透光物体表面晶形的观察分析。
8. 颗粒形貌图像可存盘和打印,还可输出多种格式的测试报告。另可根据粉体特殊性设计专用软件,比如:磨料、硅灰石等。
三、 图像分析处理功能 
1. 色调处理:负像、灰度化、色调调整、亮度、对比度调整;
2. 图像矫正:水平镜像、垂直镜像、90度(逆时针)、90度(顺时针) 、旋转、放大、缩小任意比例缩放等;
3. 测量单位:微米、毫米、厘米、英吋任选;
4. 图像增强:对比度均衡、膨胀、腐蚀等;
5. 图像处理:图像锐化,边缘平滑,二值化,边界滤波,分析目标擦除、孔洞填充,手工擦除,手工连接,粒子属性查看、设置标尺、网格等功能;
6. 分析参数:
(1)几何参数:每个颗粒的质心 X、Y 坐标位置,像素;
(2)当量几何参数:等面积圆直径,等周长圆直径,长径,短径,长径比;
(3)外接几何参数:每个颗粒的外接圆直径;
(4)光密度参数:图像 R、G、B、灰度分布;
(5)形态学参数:长径比,圆度系数;
 
 

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